蘇州永創智能 半導體靜態電性測試系統_STD2000X

基礎信息

測試分(fen)析：功率器件研發設計(ji)階段的初始測試

失(shi)效(xiao)分析：失(shi)效(xiao)器(qi)件測試，失(shi)效(xiao)機理，設計方案改善

選型配(pei)對：器件焊接PCB之前測試，按器件一(yi)致性分類配(pei)對

來料檢(jian)驗：質量部對入廠器(qi)件進(jin)行抽檢(jian)/全檢(jian)，把控良品率

量產測試：連接機(ji)械(xie)手(shou)、掃碼槍、分選(xuan)機(ji)等進(jin)行量產測試

蘇州永創智能 半導體靜態電性測試系統_STD2000X

產品特點

三代半(ban)：優秀的性能應對(dui)第(di)三代半(ban)導體及傳統(tong)器件，Si,SiC,GaN器件

測(ce)試品類：覆(fu)蓋25類常見的(de)電子(zi)元(yuan)器件及IC類，且支(zhi)持定制擴(kuo)展

功能豐富：輕松表征元器件(jian)“靜態特(te)性(xing)”“IV曲線”“Cxss”“CV”

分(fen)析篩選：功能全面(mian)，配置(zhi)豐富，勝任實驗室(shi)場(chang)景中各類電參數表征

量產測(ce)試：1h高達7K~12K的測(ce)試效率(lv)，可連接“分選機”“編帶 機”Prober接口(kou)、16Bin。

一(yi)鍵加熱(re)：一(yi)鍵脈沖自動加熱(re)至+130°C，耗時<1s;

高(gao)壓源：1400V(選配2KV)

高流(liu)源：40A(選配100A,200A,500A)

驅動電壓：20V/10uA_{100mA(選配+40V/10uA}100mA)

漏電測量：1nA漏電持續穩定測量，表(biao)現出(chu)優(you)秀的(de)一致性和(he)穩定性，更有1.5pA微電流測量選件可供(gong)選擇。

高(gao)精(jing)度(du)：16位ADC/DAC，0.1%精(jing)度(du)，1M/S采樣速率.

程控軟件：基于LabVIEW平(ping)臺開發的填充(chong)式菜單軟件界面:

夾具(ju)工裝(zhuang)：適(shi)配各類封裝(zhuang)形式(shi)的器件，自動識別器件極(ji)性NPN/PNP.

校(xiao)準：系統自帶校(xiao)準軟件，也可通過RS232接口連(lian)接數字表進行校(xiao)驗

蘇州永創智能 半導體靜態電性測試系統_STD2000X

測試品類

01.Diode/二極管(guan)（穩壓、瞬態(tai)、三端肖特(te)基、TVS、整流(liu)橋、三相整流(liu)橋）

02.BJT/三(san)極(ji)管(guan)

03.Mosfet&JFET/場效應(ying)管

04.SCR/可控硅（單向/雙向）

05.IGBT/絕緣柵雙(shuang)極大(da)功(gong)率晶(jing)體管

06.OC/光耦

07.Relay/繼電器

08.Darlingtontube/達林頓陣列

09.Currentsensor/電流傳感器(qi)

10.基準IC(TL431)

11.電壓復位IC

12.穩(wen)壓器（三端/四端）

13.三端(duan)開關功率驅動器

14.七(qi)端半橋驅動器

15.高邊功率開關

16.電(dian)壓保護器（單組/雙組）

17.開關穩壓(ya)集成(cheng)器

18.壓敏電阻

19.電壓監控器

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測試參數

漏(lou)電參數：IR、ICBO、LCEO/S/X、IDSS/X、IDOFF、IDRM、IRRM、ICOFF、IDGO、ICES、IGESF、IGESR、IEBO、IGSSF、IGSSR、IGSS、IGKO、IR(OPTO)

擊穿參數：BVCEOBVCES(300μSPulseabove10mA)BVDSS、VD、BVCBO、VDRM、VRRM、VBB、BVR、VD+、VD-、BVDGO、BVZ、BVEBO、BVGSS、BVGKO

導通參數(shu)：VCESAT、VBESAT、VBEON、 VF、VT、VT+、VT-、VON、VDSON、VDON、VGSON、VF(Opto-Diode)VGSTH、VTM、VGETH、VSD、IDON、VSAT、IDON、VO(Regulator)Notch=IGT1、IGT4、ICON、VGEON、、IIN(Regulator)

關斷參數：VGSOFF

觸(chu)發參數(shu)：IGT、VGT

保(bao)持參數：IH、IH+、IH-

鎖定參(can)數：IL、IL+、IL-

增益參數(shu)：hFE、CTR、gFS

間接參數：IL

混(hun)合參數：RDSON、gFS、Input@Output/Regulation

蘇州永創智能 半導體靜態電性測試系統_STD2000X

性能指標

半導體靜態電性測試系統_STD2000X

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