IV曲線追蹤掃描儀&半導體圖示儀能測IGBT. Mosfet. Diode. BJT......

STD2000X—IV曲線追蹤掃(sao)描儀系統能(neng)測(ce)試很多電子元(yuan)器件的靜態直(zhi)流參數（如擊穿電壓V(BR)CES/V(BR)DSs、漏(lou)電流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、閾值電壓/VGE(th)、開啟電壓/VCE(on)、跨導(dao)/Gfe/Gfs、壓降/Vf、導(dao)通(tong)內阻Rds(on)）。

測試種類(lei)(lei)(lei)覆蓋 7 大類(lei)(lei)(lei)別(bie)26分類(lei)(lei)(lei)，包括“二極(ji)(ji)管(guan)類(lei)(lei)(lei)”“三極(ji)(ji)管(guan)類(lei)(lei)(lei)（如BJT、MOSFET、IGBT）”“保護類(lei)(lei)(lei)器件”“穩壓集成類(lei)(lei)(lei)”“繼電(dian)器類(lei)(lei)(lei)”“光耦(ou)類(lei)(lei)(lei)”“傳感監(jian)測類(lei)(lei)(lei)”等品類(lei)(lei)(lei)的(de)繁多的(de)電(dian)子(zi)元器件。

高壓源標配(pei)1400V（選(xuan)配(pei)2KV），高流源標配(pei)100A（選(xuan)配(pei)40A,200A,500A）控制極(ji)(ji)/柵極(ji)(ji)電(dian)壓40V，柵極(ji)(ji)電(dian)流100mA分辨率最高至1.5uV / 1.5pA，精度(du)最高可至0.1%

STD2000X—IV曲線追蹤掃(sao)描儀系統適用于半導體分立器件(jian)靜態參(can)數測試和(he)IV曲線掃(sao)描還可測試“結電容”，支持“脈沖式(shi)一鍵(jian)加(jia)熱”和(he)“分選機(ji)連接”

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第一部分：規格&環境
1.1、產品信息

產品型(xing)號(hao)：STD2000X

產(chan)品名稱：IV曲線追蹤(zong)掃描儀(yi)系統

1.2、物理規格

主機尺寸：深660寬430高210(mm)

主(zhu)機(ji)重量：＜35kg

1.3、電氣環境

主機功耗(hao)：＜300W

海拔高度(du)：海拔不超過(guo) 4000m；

環境要求：-20℃～60℃（儲(chu)存）、5℃～50℃（工作）；

相對(dui)濕度： 20%RH～75%RH (無凝露，濕球(qiu)溫(wen)度計溫(wen)度 45℃以下)；

大氣(qi)壓力：86Kpa～106Kpa；

防護(hu)條(tiao)件：無較大灰塵，腐蝕或爆炸性氣體，導電粉塵等；

電網要(yao)求：AC220V、±10%、50Hz±1Hz；

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第二部分：應用場景和產品特點
一、應用場景
1、測試(shi)分析（功率器件研發設計階段的初(chu)始測試(shi)，主要功能為曲(qu)線追蹤儀）

2、失(shi)(shi)效(xiao)分析(xi)（對失(shi)(shi)效(xiao)器件進(jin)行測(ce)試分析(xi)，查找失(shi)(shi)效(xiao)機理。以便于(yu)對電子整(zheng)機的(de)整(zheng)體設計和使用過(guo)程(cheng)提出改(gai)善方案）

3、選型配對（在器(qi)件焊接至電路板之前(qian)進行(xing)全部測(ce)試，將(jiang)測(ce)試數據(ju)比較一致的器(qi)件進行(xing)分類配對）

4、來料檢(jian)驗（研(yan)究(jiu)所及電子(zi)廠的(de)質量部（IQC）對(dui)入廠器(qi)(qi)件(jian)進行抽檢(jian)/全檢(jian)，把控器(qi)(qi)件(jian)的(de)良品率）

5、量產測試(shi)（可連接(jie)機(ji)(ji)械手、掃碼槍、分(fen)選機(ji)(ji)等(deng)各(ge)類輔助機(ji)(ji)械設備，實現規模化(hua)、自(zi)動化(hua)測試(shi)）

6、替代進口（STD2000X IV曲線追蹤掃描儀系統可替代同級別進口產品）

二、產品特點
1、程控高壓(ya)源(yuan)10~1400V，提供2000V選配；

2、程控高流源1uA~100A，提供40A,200A,500A選配；

3、驅動(dong)電壓10mV~40V

4、控制(zhi)極電流(liu)10uA~100mA；

5、16位ADC，1M/S采樣(yang)速率；

6、自(zi)動識別器(qi)件極性 NPN/PNP

7、曲線(xian)追(zhui)蹤儀，四線(xian)開爾文連接保證加載(zai)測量的準(zhun)確

8、通過 RS232 接口連接校準數字表，對(dui)系統(tong)進行校驗(yan)

9、不同的封裝形式提供對(dui)應的夾具(ju)和(he)適(shi)配器（如TO220、SOP-8、DIP、SOT-23等等）

10、IV曲(qu)線追(zhui)蹤掃(sao)描儀系統能(neng)測(ce)很多(duo)電(dian)(dian)子元器件（如二極管(guan)、三極管(guan)、MOSFET、IGBT、可控(kong)硅、光(guang)耦、繼電(dian)(dian)器等等）；

11、IV曲線(xian)追蹤掃描(miao)儀系統能實現曲線(xian)追蹤儀（如擊穿電(dian)壓V(BR)CES/V(BR)DSs、漏電(dian)流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、閾值電(dian)壓/VGE(th)、開啟電(dian)壓/VCE(on)、跨導/Gfe/Gfs、壓降(jiang)/Vf、導通內阻Rds(on) ）

12、結電容參數(shu)也可以測試(shi)，諸如Cka，Ciss，Crss，Coss；

13、脈沖電流自動加熱功(gong)能，方便高溫(wen)測試，無需外掛升(sheng)溫(wen)裝置(zhi)；

14、Prober 接口(kou)、Handler 接口(kou)可選(xuan)（16Bin），連(lian)接分選(xuan)機最(zui)高(gao)效率1h/9000個；

15、IV曲線追(zhui)蹤掃描儀系(xi)統在(zai)各大電(dian)子廠的(de)IQC、實驗(yan)室有著廣泛的(de)應用(yong)；

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第三部分：產品介紹
3.1、產品介紹
STD2000X IV曲線追蹤掃(sao)描(miao)儀(yi)系統 是(shi)由我公司技術團隊結(jie)合IV曲線追蹤掃(sao)描(miao)儀(yi)系統的(de)多(duo)年(nian)經驗，以及(ji)眾多(duo)國(guo)內外測試系統產(chan)品(pin)的(de)熟悉了(le)解(jie)后，完全自主開(kai)發設計的(de)全新一代“IV曲線追蹤掃(sao)描(miao)儀(yi)系統”。軟件及(ji)硬件均由團隊自主完成。這就決(jue)定了(le)這款產(chan)品(pin)的(de)功(gong)能(neng)性和(he)可(ke)靠性能(neng)夠得(de)到持續完善和(he)不斷的(de)提升(sheng)。

IV曲線(xian)追蹤掃描儀系(xi)統脈(mo)沖信號源輸(shu)出方(fang)面，高壓源標(biao)配(pei)1400V（選配(pei)2KV），高流(liu)源標(biao)配(pei)100A（選配(pei)40A,200A,500A）柵(zha)極(ji)電(dian)壓40V，柵(zha)極(ji)電(dian)流(liu)100mA，分辨率最高至1uV / 1.5pA，精度最高可至0.1%。程(cheng)控軟件(jian)(jian)基于(yu)Lab VIEW平臺編(bian)寫，填充(chong)式菜單界面。采(cai)用(yong)帶有(you)開爾文(wen)感應(ying)結構的(de)測試(shi)(shi)(shi)插(cha)座，自(zi)動補(bu)償由于(yu)系(xi)統內部及測試(shi)(shi)(shi)電(dian)纜長度引(yin)起的(de)任何壓降，保證測試(shi)(shi)(shi)結果(guo)準確可靠。產品(pin)可測試(shi)(shi)(shi) Si, SiC, GaN 材料的(de) IGBTs, DIODEs, MOSFETs, BJTs, SCRs 等7大類(lei)26分類(lei)的(de)電(dian)子(zi)元器(qi)件(jian)(jian)。涵蓋電(dian)子(zi)產品(pin)中(zhong)幾乎所(suo)有(you)的(de)常見器(qi)件(jian)(jian)。無論電(dian)壓電(dian)流(liu)源還是功能(neng)配(pei)置都有(you)著極(ji)強的(de)擴展性。

產品為桌(zhuo)面放置的(de)臺式機(ji)結構，由測(ce)(ce)試(shi)(shi)主機(ji)和(he)程控電腦(nao)兩大(da)部分(fen)組成。外(wai)掛各類夾(jia)具和(he)適配(pei)(pei)器，還能(neng)夠通過Prober 接(jie)口、Handler 接(jie)口可(ke)選(xuan)（16Bin）連接(jie)分(fen)選(xuan)機(ji)和(he)機(ji)械手(shou)建(jian)立工作站，實現(xian)快速批量(liang)化測(ce)(ce)試(shi)(shi)。通過軟(ruan)件設置可(ke)依照被測(ce)(ce)器件的(de)參數(shu)等(deng)級(ji)進行自動分(fen)類存放。能(neng)夠極(ji)好的(de)應對“來料檢驗”“失(shi)效(xiao)分(fen)析”“選(xuan)型配(pei)(pei)對”“量(liang)產測(ce)(ce)試(shi)(shi)”等(deng)不同場景(jing)。

IV曲線(xian)(xian)追蹤(zong)(zong)掃描(miao)儀系統產(chan)品(pin)的(de)(de)可(ke)靠性和(he)測試數據(ju)(ju)的(de)(de)重復(fu)性以(yi)及測試效(xiao)率都(dou)有(you)著非常優秀的(de)(de)表現。創新的(de)(de)“點控式(shi)夾(jia)(jia)具(ju)”讓(rang)操作人(ren)員在夾(jia)(jia)具(ju)上(shang)實現一點即測。操作更簡單(dan)效(xiao)率更高。測試數據(ju)(ju)可(ke)保存為EXCEL文本，方便快捷的(de)(de)完成曲線(xian)(xian)追蹤(zong)(zong)儀。

3.2、人機界面（STD2000X-IV曲線追蹤掃描儀系統

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第四部分：功能配置
4.1、配置選項
STD2000X IV曲線追蹤掃描儀系統的功能配置如下

4.2、測試種類及參數
STD2000X IV曲線追蹤掃描儀系統的測試種類和參數如下
(1)二極管類：二極管 Diode
Kelvin，Vrrm，Irrm，Vf，△Vf，△Vrrm，Cka，Tr（選配）；
(2)二極管類：穩壓二極管 ZD（Zener Diode）
Kelvin，Vz，lr，Vf，△Vf，△Vz，Roz，lzm，Cka；
(3)二極管類：穩壓二極管 ZD（Zener Diode）
Kelvin、Vz、lr、Vf、△Vf、△Vz、Roz、lzm、Cka；
(4)二極管類：三端肖特基二極管SBD（SchottkyBarrierDiode）
Kelvin 、Type_ident 、Pin_test 、Vrrm、Irrm、Vf、△Vf、V_Vrrm、I_Irrm、△Vrrm、Cka、Tr（選配）；
(5)二極管類：瞬態二極管 TVS
Kelvin 、Vrrm 、Irrm、Vf、△Vf、△Vrrm 、Cka ；
(6)二極管類：整流橋堆
Kelvin 、Vrrm、Irrm、Ir_ac、Vf、△Vf、△Vrrm 、Cka；
(7)二極管類：三相整流橋堆
Kelvin 、Vrrm 、Irrm、Ir_ac、Vf、△Vf、△Vrrm、Cka；
(8)三極管類：三極管
Kelvin 、Type_ident、Pin_chk 、V(br)cbo 、V(br)ceo 、V(br)ebo 、Icbo、lceo、Iebo、Hfe、Vce(sat)、Vbe(sat)、△Vsat、△Bvceo 、△Bvcbo 、Vbe、lcm、Vsd 、Ccbo 、Cces、Heater、Tr （選配）、Ts（選配）、Value_process；
(9) 三極管類：雙向可控硅
Kelvin、Type_ident、Qs_chk、Pin_test、Igt、Vgt、Vtm、Vdrm、Vrrm、Vdrm rrm、Irrm、 Idrm、Irrm_drm、Ih、IL、C_vtm、△Vdrm、△Vrrm、△Vtm；
(10)三極管類：單向可控硅
Kelvin、 Type_ident、 Qs_chk、 Pin test、 lgt、 Vgt、 Vtm、 Vdrm Vrrm、 IH、IL、△Vdrm△Vrrm、Vtm；
(11)三極管類：MOSFET
Kelvin 、Type_ident、Pin_test、VGS(th) 、V(BR)Dss 、Rds(on) 、Bvds_rz、△Bvds、Gfs、Igss、ldss 、Idss zero 、Vds(on)、 Vsd、Ciss、Coss、Crss、Bvgs 、ld_lim 、Heater、Value_proces、△Rds(on) ；
(12)三極管類：雙MOSFET
Kelvin、 Pin_chk、Ic_fx_chk、 Type_ident、 Vgs1(th)、 VGs2(th)、 VBR)Dss1、 VBR)Dss2、 Rds1(on)、 Rds2(on)、 Bvds1 rz、 Bvds2_rz、 Gfs1、Gfs2、lgss1、lgss2、Idss1、Idss2、Vsd1、Vsd2、Ciss、Coss、Crss；
(13)三極管類：JFET
Kelvin、VGS(off )、V(BR)Dss、Rds(on)、Bvds_rz、Gfs、lgss、 Idss(off)、 Idss(on)、 vds(on)、 Vsd、Ciss、Crss、Coss；
(14)三極管類：IGBT
Kelvin、VGE(th)、V(BR)CES、Vce(on)、Gfe、lges、 lces、Vf、Ciss、Coss、Crss；
(15)三極管類：三端開關功率驅動器
Kelvin、Vbb(AZ)、 Von(CL)、 Rson、Ibb(off)、Il(lim)、Coss、Fun_pin_volt；
(16)三極管類：七端半橋驅動器
Kelvin、lvs(off)、lvs(on)、Rson_h、Rson_l、lin、Iinh、ls_Volt、Sr_volt；
(17)三極管類：高邊功率開關
Kelvin、Vbb(AZ)、Von(CL)、Rson、Ibb(off)、ll(Iim)、Coss、Fun_pin_volt；
(18)保護類：壓敏電阻
Kelvin、Vrrm、 Vdrm、Irrm、Idrm、Cka、 △Vr ;
(19)保護類：單組電壓保護器
Kelvin 、Vrrm、Vdrm、Irrm、Idrm、Cka、△Vr；
(20)保護類：雙組電壓保護器
Kelvin、Vrrm、Vdrm、Irrm、Idrm、Cka、△Vr；
(21)穩壓集成類：三端穩壓器
Kelvin 、Type_ident 、Treg_ix_chk 、Vout 、Reg_Line、Reg_Load、IB、IB_I、Roz、△IB、VD、ISC、Max_lo、Ro、Ext _Sw、Ic_fx_chk；
(22)穩壓集成類：基準IC（TL431）
Kelvin、Vref、△Vref、lref、Imin、loff、Zka、Vka；
(23)穩壓集成類：四端穩壓
Kelvin、Type_ident、Treg_ix_chk、Vout、Reg_Line、Reg_Load、IB、IB_I、Roz、△lB、VD、Isc、Max_lo、Ro、Ext_Sw、Ic_fx_chk；
(24)穩壓集成類：開關穩壓集成器
選配；
(25)繼電器類：4腳單刀單組、5腳單刀雙組、8腳雙組雙刀、8腳雙組四刀、固態繼電器
Kelvin、Pin_chk、Dip6_type_ident、Vf、Ir、Vl、Il、Ift、Ron、Ton（選配）、Toff（選配）；
(26)光耦類：4腳光耦、6腳光耦、8腳光耦、16腳光耦
Kelvin、Pin_chk、Vf、Ir、Bvceo、Bveco、Iceo、Ctr、Vce(sat)、Tr、Tf；
(27)傳感監測類：
電流傳感器（ACS712XX系列、CSNR_15XX系列）（選配）；
霍爾器件（MT44XX系列、A12XX系列）（選配）；
電壓監控器（選配）；
電壓復位IC（選配）；
曲線追蹤儀

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第五部分：性能指標
STD2000X IV曲線追蹤掃描儀系統的性能指標如下
5.1、電流/電壓源（VIS）自帶VI測量單元
（1）加(jia)壓(FV)

量程±40V分辨率625uV精度(du)±0.1% 設定值±3mV

量程±20V分辨(bian)率320uV精(jing)度±0.1% 設定值±3mV

量程(cheng)±10V分辨率160uV精(jing)度±0.1% 設定值±3mV

量(liang)程±5V分辨率(lv)80uV精度(du)±0.1% 設(she)定值(zhi)±2mV

量程±2V分(fen)辨(bian)率32uV精度±0.1% 設(she)定值±2mV

（2）加流(FI)

量程±40A 分辨(bian)率625uA精度±0.5% 設定值±30mA

量程(cheng)±4A 分辨率62.5uA精度±0.2% 設定值±2mA

量程±400mA分辨率6.25uA精度±0.1% 設定值±500uA

量(liang)程(cheng)±40mA分辨(bian)率625nA精(jing)度±0.1% 設(she)定值±50uA

量程±4mA分辨率62.5nA精(jing)度(du)±0.1% 設定值±5uA

量程±400uA分辨率6.25nA精度±0.1% 設定值±500nA

量(liang)程±40uA分辨率625pA精度±0.1% 設定值±50nA

量程±4uA分辨率(lv)62.5pA精度±0.1% 設定值±5nA

說明：電流大于1.5A自動轉為脈沖方(fang)式輸出，脈寬范(fan)圍(wei)：300us-1000us可調

（3）電流測量(MI)

量程±40A分辨(bian)率(lv)1.22mA精度±1% 讀(du)數值(zhi)±20mA

量程±4A分(fen)辨(bian)率(lv)122uA精(jing)度±0.5% 讀數值±2mA

量程±400mA分(fen)辨率12.2uA精度±0.5% 讀數值(zhi)±200uA

量程±40mA分辨率1.22uA精度±0.5% 讀數(shu)值±20uA

量程±4mA分辨(bian)率122nA精度±0.5% 讀(du)數值±2uA

量(liang)程±400uA分辨率(lv)12.2nA精度±0.5% 讀數值±200nA

量(liang)程±40uA分辨率1.22nA精度±1% 讀數值±20nA

（4）電壓測量(MV)

量程±40V分辨率1.22mV精(jing)度±1% 讀數值±20mV

量(liang)程±20V分辨率122uV 精度±0.5% 讀數值±2mV

量程±10V分辨率12.2uV 精度±0.5% 讀(du)數值(zhi)±200uV

量程±5V分(fen)辨率1.22uV 精度±0.5% 讀數值±20uV

5.2、數據采集部分（VM）
16位ADC，1M/S采樣速率

（1）電壓測(ce)量(MV)

量程±2000V分辨率30.5mV精(jing)度±0.5%讀數(shu)值(zhi)±200mV

量程±1000V分(fen)辨率15.3mV精度±0.2%讀數(shu)值±20mV

量程(cheng)±100V分辨率1.53mV精度(du)±0.1%讀數值(zhi)±10mV

量程±10V分(fen)辨(bian)率153uV精度±0.1%讀數值±5mV

量程±1V分辨率15.3uV精度±0.1%讀數值±2mV

量程±0.1V分辨(bian)率1.53uV精度±0.2%讀(du)數值±2mV

（2）漏(lou)電流測量(MI)

量程(cheng)±100mA分辨(bian)率1.53uA精度±0.2%讀數值(zhi)±100uA

量程±10mA分辨率153nA精度±0.1%讀數值±3uA

量程±1mA分辨率15.3nA精(jing)度±0.1%讀數值±300nA

量程±100uA分辨率1.53nA精(jing)度±0.1%讀(du)數值(zhi)±100nA

量程±10uA分辨率153pA精度±0.1%讀數(shu)值±20nA

量程±1uA 分辨率15.3pA精度±0.5%讀數值(zhi)±5nA

量程±100nA分(fen)辨率(lv)1.53pA精度(du)±0.5%讀(du)數(shu)值±0.5nA

（3）電容容量(liang)測量(liang)(MC)

量程6nF分辨率(lv)10PF精(jing)度±5%讀(du)數值(zhi)±50PF

量程60nF分辨率100PF精度(du)±5%讀數值±100PF

5.3、高壓源（HVS）(基本)12位DAC
（1）加壓(FV)

量程2000V/10mA分辨(bian)率30.5mV精度(du)±0.5%設定值±500mV

量程200V/10mA分辨率30.5mV精度±0.2%設定(ding)值±50mV

量程40V/50mA分(fen)辨率30.5mV精度±0.1%設定值(zhi)±5mV

（2）加流(liu)(FI)：

量程10mA分辨率3.81uA 精度(du)±0.5%設(she)定值±10uA

量程(cheng)2mA分(fen)辨率(lv)381nA精度(du)±0.5%設定(ding)值±2uA

量(liang)程200uA分辨率38.1nA精(jing)度±0.5%設定(ding)值±200nA

量(liang)程20uA分(fen)辨(bian)率3.81nA精度(du)±0.5%設定值±20nA

量(liang)程2uA分辨(bian)率381pA精度±0.5%設定值±20nA

STD2000X—IV曲線追蹤掃描儀系統能測很多電子元器件（如二極管、三極管、MOSFET、IGBT、可控硅、光耦、繼電器等等）產品廣泛的應用在院所高校、封測廠、電子廠.....