在半導體設計與制造中，靜態參數測試是(shi)驗證器(qi)件(jian)性能與可靠性的(de)基石(shi)。無(wu)論是(shi)研發階(jie)段的(de)特性分析，還是(shi)量產(chan)中的(de)質量控制，對(dui)器(qi)件(jian)直流參數、IV曲線(xian)、動(dong)態響應(ying)等關鍵指標的(de)精準捕捉，都(dou)直接影(ying)響產(chan)品的(de)最終表(biao)現。

然而，傳統測試系統往往面臨精度不足、兼容性差、擴展性弱等挑戰，尤其在面對第三代半導(dao)體材料(liao)（如SiC、GaN）時，更是(shi)力(li)不從心。

今天我們來看一款來自蘇州永創智能的STD2000X 半導體分立器件靜態電性測試系統，它不僅在精度與速度上實現了突破，更在測試理念與系統集成上展現出獨(du)特的(de)創新。

一、不只是“測試儀”，更是“靜態參數系統”

STD2000X 被(bei)定(ding)義為一套完整的“半導體分立器件靜態(tai)電性測試(shi)系統”，其核心定(ding)位(wei)在(zai)于(yu)：

覆蓋廣度：支(zhi)持7大類、26小類器(qi)件測試，包括二極管(guan)、三極管(guan)、MOSFET、IGBT、光耦、繼電器(qi)、保護器(qi)件等；

材料兼容：不僅適用于傳(chuan)統Si器件，更完整支持SiC、GaN等寬(kuan)禁帶(dai)半導體；

功能集成：融合靜態參數測試 + IV曲線(xian)掃描 + 動態特(te)性分析 + 結電(dian)容(rong)測量，一站式(shi)完(wan)成器(qi)件表征。

?? 創新點：它不是單(dan)一功能(neng)的“測(ce)量(liang)工具”，而(er)是具備可編程、可擴展、可聯網的智能(neng)測(ce)試(shi)平臺。

二、精度與速度：不只是數字的游戲

半導體分立器件(jian)(jian)靜態參數測試儀 STD2000X 在硬件(jian)(jian)性能上表現出色(se)：

電壓分辨率：最高可達 1.5μV

電流分辨率：最低(di)至 1.5pA

高壓源：標配1400V，可選配至 3kV

高流源：標(biao)配(pei)40A，可選配(pei)至(zhi) 1000A（1kA）

采(cai)樣速率：1M/S，16位ADC

這些(xie)參數背后，是(shi)系統在微電流測(ce)量、高壓(ya)穩定性(xing)、脈(mo)沖加熱等方面的(de)技(ji)術(shu)積累。例如(ru)，其(qi)“一鍵脈(mo)沖加熱”功能(neng)可在 <1秒 內將(jiang)器件加熱至±130℃，大幅(fu)提(ti)升高溫測(ce)試效率。：標配40A，可選配至 1000A（1kA）

采樣速率：1M/S，16位ADC

這些參數背后，是系統在微電流測量、高壓穩定性、脈沖加熱等方面的技術積累。例如，其“一鍵脈沖加熱”功能可在 <1秒 內(nei)將器件(jian)加熱至±130℃，大幅提(ti)升高溫測試效率。

三、軟件定義測試：人人都可編程的“測試腳本”
STD2000X 的軟件系統基于 LabVIEW 平臺開發，具備填充式菜單界面，用戶無需編寫代碼即可完成測試流程的搭建與修改。

點擊(ji)添加 按(an)鈕(niu)(niu)，系統將(jiang)左邊的可測(ce)(ce)參(can)數(shu)加至右(you)邊測(ce)(ce)試參(can)數(shu)表(biao)，左邊窗(chuang)口中(zhong)列出(chu)系統可測(ce)(ce)的所有參(can)數(shu)，雙擊(ji)欲選擇(ze)的參(can)數(shu)或單擊(ji)欲選擇(ze)的參(can)數(shu)后點擊(ji)確定(ding)按(an)鈕(niu)(niu)，即(ji)在待測(ce)(ce)參(can)數(shu)窗(chuang)口中(zhong)增加了(le)一個測(ce)(ce)試參(can)數(shu)(在尾部)，同時(shi)在右(you)部參(can)數(shu)編輯窗(chuang)口中(zhong)將(jiang)顯示(shi)該參(can)數(shu)的名稱，供(gong)下一步進行編輯測(ce)(ce)試參(can)數(shu)。

點擊刪除(chu) 按鈕，系統將刪除(chu)當前(qian)參數(shu)。

支持：

自定義測試序列

自動分檔與統計

Excel數據導出

遠程控制與自動化對接

這使得系統不僅適用于實驗室研發，也能無縫接入產線分選機、機械手、Prober 等設備，實現規模化測試。

四、典型應用場景：從研發到量產的全周期覆蓋

五、創新不止于硬件：BOX1000 高低溫測試套件

半導體分立器件STD2000X 靜態參數測試儀可搭配 BOX1000 高低溫試驗艙，實現 -55℃ ~ +200℃ 環境下的實時參數測試。這對于功率器件、車規芯片等溫度敏感型器件的驗證尤為重要。

六、結語：靜態測試的“新基建”

在(zai)半導體(ti)自主化與智能化浪潮中，測試(shi)設(she)備不(bu)僅(jin)是“工具(ju)”，更是技術驗證的(de)底(di)座、數(shu)據驅(qu)動的(de)起(qi)點(dian)。半導體(ti)分立器件STD2000X靜態參數(shu)測試(shi)儀通過(guo)高(gao)精度、高(gao)兼容、可編程、可擴展的(de)設(she)計，正在(zai)成為(wei)越來(lai)越多企業與研究所的(de)“靜態測試(shi)基座”。

如(ru)果你也在(zai)尋(xun)找一款能同(tong)時滿足 研發深度 + 量產效(xiao)率 的(de)靜態測試系(xi)統，不妨關注一下這款“不被定義”的(de)STD2000X。